Vor der weiteren Bearbeitung werden die fertigen
integrierten Halbleiterschaltungen einer Siliziumscheibe mit den im Bild gezeigten
Tastspitzen auf das Einhalten ihrer elektrischen Daten vorgeprüft. Das Aufsetzen
der Tastspitzen auf die Kontaktstellen der einzelnen Schaltkreise läßt sich unter
einem Mikroskop oder automatisch vornehmen. Systeme, die den Prüfbedingungen nicht
genügen, werden kenntlich gemacht und anschließend nach dem Trennen der
Einzelsysteme ausgeschieden.
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